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ｆ=200ｍｍ超小型微分干渉同轴照明无限光学系统TL-200S-OP-NP
1．用途:用于半导体、电子基板、LCD、TFT、PDP等领域的观察、测量及定位
2．物镜上方设有DIC棱镜,照明的横(侧)方向挪动的2个光线分离照明光照在物体上,能立体观察及根据物体直接反射的2个光线差、明暗的对比,观察极小的等级差别。光路差成为颜色的变化，微小等级差别的观察能更加提高灵敏度,更好地提高观察率。用通常的光学系很难适合观察(硅片、晶片)的细微伤痕的检验，基板的压接部分的凹凸等观察、测量。
M Plan APO 物镜的対应 |
1．物镜固定螺蚊：W26 36牙(36TPI) |
3．本体部：DIC棱镜盒插口、Analyzer插口 |
2．照明部：同轴照明、可变亮度光圈、Poraraizarinsart |
4．対应CCD英寸尺寸：1/3、1/2、2/3 |
可选配的M Plan APO 物镜 微分观察推荐2x～10x
型号 |
2X/0.055WD34 |
5X/0.14WD34 |
10X/0.28WD34 |
20X/0.42WD20 |
50X/0.55WD13 |
100X/0.55WD13 |
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